品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 石油 |
單晶少子壽命測試儀
TR-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數載流子壽命。半導體材料的少數載流子壽命測量,是半導體的常規測試項目之一。本儀器靈敏度較高,配備有紅外光源,可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶,以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
本儀器根據通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩壓電源、高頻源、檢波放大器,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結構緊湊、測量數據可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
技 術 指 標 : | ||||||||||||||||||||||||
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微量水分測定儀 型號:SF-5
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